高溫烘烤試驗(yàn)又稱(chēng)高溫老化試驗(yàn)，從屬于老化測(cè)試。與普通的高溫試驗(yàn)不同的是，高溫烘烤的溫度較高，且沒(méi)有濕度條件。高溫烘烤試驗(yàn)主要適用于電子，電工，儀表，材料，半導(dǎo)體等生產(chǎn)企業(yè)對(duì)非易爆物進(jìn)行干燥，烘焙及熱處理，特別適用于LED，LCD在英晶體，電容，電阻，等要求高恒精度和可靠性的產(chǎn)品過(guò)程的烘干和老化。此類(lèi)高溫老化試驗(yàn)一般采用高溫烘箱來(lái)完成。

高溫烘烤試驗(yàn)應(yīng)用領(lǐng)域：

道路交通類(lèi)：道路車(chē)輛電子電氣設(shè)備、軌道交通機(jī)車(chē)車(chē)輛設(shè)備與裝置、汽車(chē)零部件等

計(jì)算機(jī)類(lèi)：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等

電子通信類(lèi)：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等，PCB、PCBA。

電器類(lèi)：家電、燈具、變電器等各類(lèi)家電電器設(shè)備、儀器儀表、醫(yī)療器械；

高溫烘烤試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2等。