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高低溫測試標(biāo)準(zhǔn)

  在自然環(huán)境中,溫度和濕度是不可分割的兩個(gè)自然因素,不同地區(qū)由于不同的地理位置,產(chǎn)生的溫度、濕度效應(yīng)也各不相同。高低溫測試是用來確認(rèn)產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時(shí)間。

  高低溫箱具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫測試;

  高溫試驗(yàn)詳細(xì)介紹:本試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.2,IEC 60068-2-2,IEIA 364, MIL-STD-810F等。

  低溫試驗(yàn)介紹:本試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.1,IEC 60068-2-1,EIA 364, MIL-STD-810F等。

  溫度沖擊試驗(yàn)介紹:本試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時(shí)間、循環(huán)數(shù)。參考的測試標(biāo)準(zhǔn):IEC60068-2-14,GB2423.22,GJB150.5等

  常見的高低溫測試標(biāo)準(zhǔn)

  GB/T2423.2. IEC 60068-2-2,IEIA 364, MIL-STD-810F等。


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