LCD液晶產(chǎn)品檢測(cè)

surface morphology  表面形貌分析
Optical profiler，SEM，TEM
分析對(duì)象：  
FPC 柔性線路板
Gold finger金手指
Gold bump 金凸塊
  
Driver IC分析
（參見集成電路分析項(xiàng)目）
 
ITO 薄膜分析
SEM/EDS， TEM/EDS
  
Organic Dots and Contamination Analysis有機(jī)污染分析
FTIR
 
Structure defects 結(jié)構(gòu)缺陷分析
TEM，SEM
分析對(duì)象：  
COG bonding，Gold Bump，Gold finger
Bright /dark dots and bright/dark lines  亮點(diǎn)/暗點(diǎn)，亮線/暗線     
 
Failure Analysis  失效分析 
EMMI，SAM，F(xiàn)IB，TEM，SEM
分析對(duì)象：
Driver IC，Gold Bump，ITO，Gold Finger… …
 
可靠性測(cè)試