1.HALT/HASS高加速壽命試驗(yàn)/高加速應(yīng)力篩選測(cè)試簡(jiǎn)介

     HALT(Highly Accelerated Life Test，高加速壽命試驗(yàn))-HASS(Highly Accelerated Stress Screening，高加速應(yīng)力篩選)、這是一種能夠提高產(chǎn)品可靠性的測(cè)試手段，HALT/HASS 是由美國(guó)軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法，現(xiàn)已成為美國(guó)電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6 個(gè)月甚至1 年的新產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問(wèn)題幾乎與客戶(hù)應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題一致，故HALT/HASS 的試驗(yàn)方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過(guò)的驗(yàn)證。在美國(guó)之外，許多國(guó)際的3C 電子產(chǎn)品大廠(chǎng)也都使用相同或類(lèi)似的手法來(lái)提升產(chǎn)品質(zhì)量。

HALT 是一種通過(guò)讓被測(cè)物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計(jì)上的缺限，以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動(dòng)，高低溫，溫度循環(huán)，電力開(kāi)關(guān)循環(huán)，電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。包含以下內(nèi)容:

a、逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障;

b、采取臨時(shí)措施，修正產(chǎn)品的失效或故障;

c、繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障，并再次加以修正;

d、重復(fù)以上應(yīng)力-失效-修正的步驟;

e、找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。

HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，以確保所有在HALT 中找到的改進(jìn)措施能夠得到實(shí)施。HASS 包含如下內(nèi)容:

a、進(jìn)行預(yù)篩選、剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷;

b、進(jìn)行探測(cè)篩選、找出明顯缺陷;

c、故障分析;改進(jìn)措施。

 2.HALT/HASS高加速壽命試驗(yàn)/高加速應(yīng)力篩選測(cè)試范圍

 3.HALT/HASS高加速壽命試驗(yàn)/高加速應(yīng)力篩選測(cè)試特點(diǎn)

    一般來(lái)說(shuō)HALT試驗(yàn)需要客戶(hù)技術(shù)人員與XKT測(cè)試專(zhuān)家一起進(jìn)行，便于及時(shí)分析產(chǎn)品出現(xiàn)故障原因。具體測(cè)試流程參考下表: