概述

對于樣品表面的一些化學(xué)信息較為關(guān)注時(shí)，會(huì)采用表面分析技術(shù)，目前表面分析涉及到的儀器有掃描電鏡-能譜儀(SEM-EDS)，X射線光電子能譜儀(XPS)，俄歇電子能譜儀(AES)等。掃描電鏡-能譜儀(SEM-EDS)可以對樣品表面形貌觀察，表面元素分析，截面形貌觀察，截面元素分析等，分析深度一般為微米(10-6m)級別。X射線光電子能譜儀(XPS)和俄歇電子能譜儀(AES)可對樣品進(jìn)行表面元素分析，表面縱向元素分析，表面元素價(jià)態(tài)分辨，分析深度通常為納米(10-9m)級別。

同位素分析測試儀器

加速質(zhì)譜儀13C、15N、18O、D氚

穩(wěn)定同位素質(zhì)譜儀6LI、10B同位素

電感耦合等離子質(zhì)譜儀

放射性元素檢測

項(xiàng)目類別元素

天然放射性核素限量鐳-226，釷-232，鉀-40，鈾-238

γ輻射劑量率

總輻射量

水質(zhì)放射性

總α，總β

檢測儀器

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES） 電感耦合等離子體質(zhì)譜ICP-MS

波長型X射線熒光光譜儀（XRF） 能量散射型X射線熒光光譜儀（EDX）

有機(jī)元素分析儀 掃描電子顯微鏡X射線能譜儀(SEMEDS)

紫外/可見光分光光度計(jì)（UV） 原子吸收分光光度計(jì)（AAS）

原子發(fā)射分光光度計(jì)（AES） 離子色譜

直讀光譜儀 CS分析儀

檢測標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T 17418.7-2010 地球化學(xué)樣品中貴金屬分析方法　第7部分：鉑族元素量的測定

　　YS/T 372.1-2006 貴金屬合金元素分析方法 銀量的測定

　　YS/T 372.2-2006 貴金屬合金元素分析方法 鉑量的測定

　　YS/T 372.3-2006 貴金屬合金元素分析方法 鈀量的測定

　　YS/T 372.4-2006 貴金屬合金元素分析方法 銅量的測定

　　YS/T 372.7-2006 貴金屬合金元素分析方法 鈷量的測定

　　YS/T 372.9-2006 貴金屬合金元素分析方法 鎳量的測定

　　GB/T 33042-2016 木質(zhì)地板飾面層中鉛、鎘、鉻、汞重金屬元素含量測定

　　GB 20814-2014 染料產(chǎn)品中重金屬元素的限量及測定

YS/T 372.17-2006 貴金屬合金元素分析方法 鎢量和錸量的測定