概述

脈沖群抗擾度試驗(yàn)，是模擬電網(wǎng)中眾多機(jī)械開(kāi)關(guān)在切換感性負(fù)載時(shí)所產(chǎn)生的干擾。這類(lèi)干擾的特點(diǎn)是：成群出現(xiàn)的窄脈沖、脈沖的重復(fù)頻率較高（kHz-MHz級(jí)）、上升沿陡峭（ns級(jí)）、單個(gè)脈沖的持續(xù)時(shí)間短暫（10-100ns級(jí)）、幅度達(dá)到kV級(jí)。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對(duì)半導(dǎo)體器件的結(jié)電容充電，當(dāng)能量積累到一定程度后可引起線路或設(shè)備出錯(cuò)。試驗(yàn)時(shí)將脈沖疊加在電源線（通過(guò)耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)）和通信線路（通過(guò)電容耦合夾），對(duì)設(shè)備形成干擾。

受試設(shè)備（EUT）的試驗(yàn)部分主要包括設(shè)備的供電電源端口、保護(hù)接地（PE）、信號(hào)和控制端口

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

IEC 61000-4-4/GB T 17626.4：電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)