為驗(yàn)證電子產(chǎn)品的使用壽命、穩(wěn)定性等特性，通常會(huì)測(cè)試其重要元件（IC芯片等）的溫升，將被測(cè)設(shè)備置于高于其額定工作溫度（T=25℃）的某一特定溫度（T=70℃）下運(yùn)行，穩(wěn)定后記錄其元件高于環(huán)境溫度的溫升，驗(yàn)證此產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否合理。

1) 選取要測(cè)量的點(diǎn), 并粘好熱電偶，線圈的溫度用電阻法測(cè)量；

2) 將待測(cè)產(chǎn)品按要求放置；

通電,調(diào)整輸入至要求值